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多波长高精度激光干涉仪

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多波长高精度激光干涉仪
多波长高精度激光干涉仪
市面上的大多数激光干涉仪仅有一个工作波长,为解决重大任务中特定工作波长下的光学元件精密检测问题,我们首次提出600-1600nm 多波长高精度激光干涉技术,解决了传统单一波长干涉测量技术不能实现宽带多波长同时检测的问题。
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技术详情

成果简介

市面上的大多数激光干涉仪仅有一个工作波长,为解决重大任务中特定工作波长下的光学元件精密检测问题,我们
首次提出600-1600nm 多波长高精度激光干涉技术,解决了传统单一波长干涉测量技术不能实现宽带多波长同时检测的
问题。本成果涉及光源同轴合束、高精度宽光谱扩束及成像系统的超消色差设计、高精度光学元件的加工、镀膜和装调
等多方面技术创新。

技术优势

本技术成果支持在600-1600nm 波段内的任意波长下对口径小于等于150mm 的平面光学元件的波前误差进行精确
移相测量。

性能指标

性能参数          指标
工作波长600-1600nm 波段(标配最多可接4 台单纵模激光器)
移相方式PZT 机械移相
测量口径≥ Φ150mm
测量腔长≥ 1.50m
相机个数1
相机分辨率 640×480
面形误差PV 测量精度优于λ/20
面形误差测量重复性RMS优于0.60nm (Mean+2σ)

应用场景

对工作波长在600-1600nm 波段内的镀膜(或未镀膜)光学元件的面形、波前误差等参数进行高精度测量,可测量
的元件材料包含玻璃、塑胶、陶瓷、硅片和抛光的金属等。

 

 

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